Kaj je mikroskop atomske sile
Mikroskopija z atomsko silo: nova eksperimentalna tehnika, ki uporablja sile interakcije med atomi in molekulami za opazovanje mikroskopskih značilnosti na površini predmeta. Sestavljen je iz sonde nanometrske velikosti, pritrjene na občutljivo manipulirano fleksibilno konzolo mikronske velikosti. Ko je sonda zelo blizu vzorca, sile med atomi na njeni konici in atomi na površini vzorca povzročijo, da se konzola upogne stran od prvotnega položaja. Tridimenzionalna slika se rekonstruira iz količine odstopanja ali frekvence tresljajev sonde, ko ta skenira vzorec. Posredno je mogoče pridobiti topografijo ali atomsko sestavo površine vzorca.
Uporablja se za preučevanje površinske strukture in lastnosti snovi z zaznavanjem zelo šibkih medatomskih interakcijskih sil med površino vzorca, ki ga je treba izmeriti, in miniaturnim elementom, občutljivim na silo. Par mikrokonzol, ki so izjemno občutljivi na šibke sile, je fiksiran na enem koncu, drobna konica na drugem koncu pa se približa vzorcu, ki nato deluje z njim in sile povzročijo mikrokonzole deformirati ali spremeniti njihovo stanje gibanja.
Pri skeniranju vzorca senzor zazna te spremembe in pridobi informacijo o porazdelitvi sil ter tako pridobi informacijo o površinski strukturi z ločljivostjo nanoskalke. Sestavljen je iz mikrokonzole s konico igle, mikrokonzole za zaznavanje gibanja, povratne zanke za spremljanje njenega gibanja, piezoelektrične keramične skenirne naprave za skeniranje vzorca in računalniško vodenega sistema za zajemanje, prikaz in obdelavo slike. Gibanje mikrokonzole je mogoče zaznati z električnimi metodami, kot je zaznavanje tunelskega toka, ali z optičnimi metodami, kot je odklon žarka in interferometrija itd. jih je mogoče zaznati odboj, da dobimo površino atomske ravni ločljivosti slike in na splošno ločljivost nanometrske ravni. AFM meritve vzorcev nimajo posebnih zahtev in se lahko uporabljajo za merjenje površine trdnih snovi in adsorpcijski sistemi.
