Metoda preverjanja za metalografske mikroskope
1. Sledljivost meritev
Z uporabo mikroskopske skale 0,01 mm kot vzorca zberite mikroskopske slike lusk z lečami objektiva 3,2, 6,3, 12,5, 25 in 50-krat ter lečami z vmesno spremenljivo povečavo 8, 10, 12,5, 16 oziroma 20-krat ter jih natisnite pri enaki povečavi. Slika 1 prikazuje mikroskopsko sliko 100-kratnega merila, posneto pod objektivom 12,5-krat in lečo z vmesno spremenljivo povečavo 8-krat, s premerom vidnega polja 0,8 cm. Zbrana slika je jasna, brez aberacij ali geometrijskih popačenj, ki jih opazimo s prostim očesom, svetloba v vidnem polju pa je enotna. Izmerite merilno črto z 0,02 mm merilnim merilom in jo pretvorite v dejansko povečavo, ki ustreza zahtevam JB/T8230.6-1999 "Povečava mikroskopa". Če je teoretična povečava 100, je dejanska povečava 202,4; Teoretična povečava je 500, dejanska pa 497,8. Relativne napake s teoretično povečavo so 1,8 %, 0,12 % oziroma 0,44 %, relativne napake pa so vse<2%
Leva širina istovrstne merilne črte je 2,24 μm, srednja širina 2,49 μm, desna širina pa 2,56 μm. Relativna napaka med največjo in najmanjšo vrednostjo * je 4,6 %, kar pomeni, da faktor povečave znotraj celotnega vidnega polja izpolnjuje zahteve standarda JB/T8230.6-1999 "Povečava mikroskopa".
Teoretični razmik merila mikroskopa 0,01 mm je 0,01 mm. Z uporabo programske opreme za kvantitativno in polkvantitativno analizo slike je bil razmik med črtami lestvice na sliki 1 izmerjen 5-krat, rezultati meritev pa so prikazani v tabeli 2. Vidimo lahko, da je relativna napaka med 5 rezultati meritev in teoretično vrednostjo med 1,10 % in 1,37 %, kar kaže, da izpolnjuje tudi zahteve standarda JB/T8230.6-1999.
Z uporabo mikroskopske lestvice 0,01 mm kot vzorca je slika mikroskopske skale, ki jo posname digitalni fotografski sistem, jasna in vidno vidna brez odstopanja ali popačenja. Merjenje povečave, razmika in širine merilne črte merila izpolnjuje standardne zahteve, kar kaže, da je merjenje mikroskopa in konfiguriranega sistema digitalne fotografije mogoče izslediti nazaj do mednarodnega sistema enot (SI). Izpolnjuje zahteve metalografske analize in kontrole ter izpolnjuje zahteve standarda ISO/IEC 17025:2005 za sledljivost meritev.
2 Mikrostruktura
Mikrostruktura vzorcev nodularne litine, zbranih s sistemom za digitalno slikanje, je prikazana na sliki 2. Povečava zbirke je 1000. Vidi se, da je zbrana mikrostruktura jasna. Tiskarska povečava je nastavljena na 1000, dolžina ravnila 0,02 mm na sliki pa je izmerjena s pomično merilom 0,02 mm, kar je 20,24 mm. Pri pretvorbi v povečavo 012 je relativna napaka med povečavo in teoretično nastavitvijo 1. 2%, v skladu z JB/T 8230. Zahteva 6-1999. Mikrostruktura, zbrana s sistemom za digitalno slikanje, izpolnjuje zahteve metalografske analize in pregleda.
3 Merjenje dolžine
Uporabite programsko opremo za kvantitativno in polkvantitativno analizo slike, da izmerite razdaljo črte lestvice na sliki 1. Začenši z leve * dolge črte lestvice, izmerite razdaljo črt lestvice na 30 teoretičnih razdaljah 0,01, 0,02,..., 0,29, 0,30 mm od leve proti desni. Rezultati meritev so prikazani v tabeli 3, iz katere je razvidno, da je relativna napaka med rezultati meritev in teoretičnimi vrednostmi manjša od 2 %. Ta programska oprema izpolnjuje zahteve metalografske analize in pregledovanja rezultatov meritev dolžine.
Primerjava 4 spektrov
Če za primer vzamemo oceno sferoidizacije 20 jeklenih kroglic, potrdite primerjavo spektrov programske opreme za kvantitativno in polkvantitativno analizo slike. Najprej so bile zbrane slike jeklene konstrukcije 20. Po preiskavi so bile slike jasne in velikost vidnega polja je bila nadzorovana pri 71 mm × 97 mm. S primerjavo spektrov je bila stopnja sferoidizacije jeklene kroglice 20 ugotovljena kot raven
4. Povečava standardnega spektra za DL/T 674-1999 "Razvrstitev sferoidizacije perlita v 20 jeklih za termoelektrarne" je 500, velikost spektra sferoidizacijske stopnje 4 pa je 68 mm × 98 mm. Zbrano sliko in standardni spekter postavite v isto vidno polje, ju kopirajte na zaslon in ju natisnite pri poljubni povečavi na istem vmesniku. Izmerite povečavo obeh slik, standardni spekter je 316-krat, zbrana slika je 308-krat, relativna napaka pa je -2. 53%, izmerite velikost dveh slik in standardni spekter je 43 mm × 60 mm. Vidimo lahko, da vzorčna slika izpolnjuje zahteve tako glede povečave kot velikosti vidnega polja.
