Merilnik debeline prevleke je napačen iz več razlogov.
Pri merilnikih debeline prevleke obstajajo predvsem naslednji razlogi, ki povzročajo netočne meritve.
(1) Interferenca močnega magnetnega polja. Izvedli smo preprost poskus, ko bo instrument deloval blizu elektromagnetnega polja približno 10,000 V, bodo meritve resno motene. Če je zelo blizu elektromagnetnega polja, lahko pride do pojava trka.
(2) Človeški dejavniki. Ta situacija se pogosto zgodi novim uporabnikom. Razlog, zakaj lahko merilnik debeline prevleke meri na mikronsko raven, je ta, da lahko sprejme majhno spremembo magnetnega pretoka in jo pretvori v digitalni signal. Če uporabnik instrumenta med postopkom merjenja ne pozna, lahko sonda odstopi od testiranega telesa, kar povzroči spremembo magnetnega pretoka in povzroči napačno meritev. Zato je priporočljivo, da uporabniki in prijatelji ob prvi uporabi instrumenta najprej osvojijo merilno metodo. Postavitev sonde ima velik vpliv na merjenje. Med merjenjem je treba sondo držati pravokotno na površino vzorca. In sonda ne sme biti postavljena predolgo, da ne povzroči motenj magnetnega polja same matrice.
(3) Med kalibracijo sistema ni bil izbran ustrezen substrat. Najmanjša ravnina podlage je 7 mm, najmanjša debelina pa 0.2 mm. Meritve pod tem kritičnim stanjem so nezanesljive.
(4) Vpliv vezanih snovi. Instrument je občutljiv na oprijemljive snovi, ki preprečujejo tesni stik sonde s prekrivno površino. Zato je treba pritrjene snovi odstraniti, da se zagotovi neposreden stik sonde s površino pokrivne plasti. Pri izvajanju kalibracije sistema mora biti tudi površina izbrane podlage gola in gladka.
(5) Instrument ne uspe. V tem času lahko komunicirate s tehniki ali se vrnete v tovarno na popravilo.
Zakaj med postopkom merjenja včasih pride do očitnih odstopanj v merilnih podatkih?
Med samim postopkom merjenja je lahko zaradi nepravilne postavitve sonde ali vpliva zunanjih motečih dejavnikov merilni podatek bistveno večji. V tem času lahko pritisnete in držite tipko CAL, da izbrišete podatke, da ne vnesete statistike podatkov.
