Metoda nastavitve metalografskega mikroskopa,
Metalografski mikroskop je popolna kombinacija tehnologije optičnega mikroskopa, tehnologije fotoelektrične pretvorbe in tehnologije računalniške obdelave slik, da se razvije v visokotehnološki izdelek, ki zlahka opazuje metalografske slike z računalniki in metalografske atlase, ocene, izhodno grafiko, tiskanje itd. Kot vsi vemo, sestava zlitin, toplotna obdelava ...
Metalografski mikroskop je popolna kombinacija tehnologije optičnega mikroskopa, tehnologije fotoelektrične pretvorbe in tehnologije računalniške obdelave slik za razvoj v visokotehnološki izdelek, ki lahko zlahka opazuje metalografske slike z računalniki in metalografske atlase, ocene, izhodno grafiko, tiskanje itd. Kot vsi vemo, sestava zlitine, toplotna obdelava ter tehnologija vroče in hladne obdelave neposredno vplivajo na spremembo strukture notranjega mehanizma kovinskega materiala, tako da se spremenijo mehanske lastnosti dela. Zato je postalo pomembno sredstvo industrijske proizvodnje za opazovanje in pregledovanje strukture notranjega mehanizma kovine z analizo metalografskega mikroskopa. Kakšna je torej metoda prilagajanja in uporabe metalografskega mikroskopa? Predstavil vam ga bo naslednji urednik.
Metoda nastavitve metalografskega mikroskopa:
1. 10x nastavitev objektiva
V postopku uporabe metalografskega mikroskopa je 10-kratna objektivna leča standardna skupna objektivna leča pri fokusiranju. Sprva gre za prehod z objektiva z 10-kratno na lečo z manjšo povečavo ali pri prehodu z leče z 10-kratno na lečo z večjo povečavo ne bo drastične spremembe. Druga točka je, da je globina izostritve leče objektiva z manjšo povečavo dolga in opazovalčev goli vid ni po volji v središču in lahko pride do stika med vzorcem in lečo, ko neposredno preklopite na objektiv z visoko povečavo. objektiv.
10-kratni objektiv ni le običajni običajni objektiv pri ostrenju, ampak veliko vključuje tudi pri praktičnem delu. Na primer, v številnih ustreznih nacionalnih standardih za metalografsko inšpekcijo je najpogosteje primerjati referenčne standardne spektre pod pogojem 100-kratnega opazovanja, pridobitev 100-krat pa izhaja iz 10-kratnega objektiva in 10-kratnega okularja. Začenši s teoretičnim nadzorom, če le ni naključen ali zlonameren, bi moral biti naslednji kontrolni ukrep, da se leča objektiva približa goriščni ravnini. Pod pogojem 10-kratne objektivne leče mora biti po pravilni postavitvi vzorca zamegljena slika ali celo razmeroma jasna slika. , le malo vzdrževanja in finih nastavitev.
2. Ustrezen vstop in izstop
Kar zadeva vprašanje ostrenja po prehodu z leče objektiva z majhno povečavo na lečo z visoko povečavo, je zaradi izboljšanja trenutnega proizvodnega procesa mikroskopa parfokalna zmogljivost različnih leč mikroskopskega objektiva razmeroma dobra, zlasti za čezmorske izdelke. Pri opazovanju se včasih ni treba ponovno osredotočiti. Slika je že zelo jasna; morda samo rahlo povečajte razdaljo objekta in stopnja prilagoditve zagotovo ni koncept 1~3 krogov, to je koncept 1~3 stopinj (kot), ki je izjemno zapleten. količino.
3. O pretvorniku objektiva
Pri menjavi leče objektiva ne potiskajte leče objektiva neposredno z roko, sicer lahko povzročite, da se vijačni navoj močne leče objektiva zrahlja in povzroči nagib optične osi. Objektiv mikroskopa in sistem mikroskopske digitalne kamere sta privita na pretvornik objektiva. Ko menjate različne leče objektiva, menjajte pretvornik leč objektiva, dokler ušesa ne zaslišite rahlega "klika" in občutite, da se upor močno poveča. V tem času je leča objektiva v normalnem delovnem položaju: pravokotno na ravnino mize.
Zgornja vsebina je uvod v nastavitev in uporabo metalografskih mikroskopov. Metalografski mikroskopi se uporabljajo posebej za opazovanje neprozornih predmetov, kot so kovine in minerali. Teh neprozornih predmetov ni mogoče opazovati z navadnimi mikroskopi s presvetljavo. Glavna razlika med metalografskimi mikroskopi in navadnimi mikroskopi je v tem, da je prvi osvetljen z odbito svetlobo, drugi pa s prepustno svetlobo. V metalografskem mikroskopu se osvetljevalni žarek projicira iz smeri leče objektiva na površino predmeta, ki ga opazujemo, odbije se od površine predmeta in se nato vrne v lečo objektiva za slikanje. Ta metoda odbite svetlobe se pogosto uporablja tudi pri detekciji silicijevih rezin integriranega vezja.
