Struktura sistema mikroskopije na atomsko silo (AFM).
1. Oddelek za zaznavanje sile:
V sistemu mikroskopije na atomsko silo (AFM) je sila, ki jo je treba zaznati, van der Waalsova sila med atomi. V tem sistemu se torej konzola uporablja za zaznavanje sprememb sile med atomi. Ta mikro konzola ima določene specifikacije, kot so dolžina, širina, koeficient elastičnosti in oblika konice igle, izbira teh specifikacij pa temelji na značilnostih vzorca in različnih načinih delovanja ter izbrane so različne vrste sond.
2 Odsek za zaznavanje položaja:
V sistemu mikroskopije na atomsko silo (AFM), ko pride do interakcije med konico igle in vzorcem, bo konzola zanihala. Zato se bo ob obsevanju laserja na koncu konzole spremenil tudi položaj odbite svetlobe zaradi nihanja konzole, kar povzroči ustvarjanje odmika. V celotnem sistemu se laserski detektor položaja uporablja za beleženje odmika in pretvorbo v električni signal za obdelavo signala s krmilnikom SPM.
3 Sistem povratnih informacij:
V sistemu mikroskopa na atomsko silo (AFM) se signal, potem ko ga sprejme laserski detektor, uporabi kot povratni signal v povratnem sistemu kot notranji nastavitveni signal in poganja skener, ki je običajno izdelan iz piezoelektričnih keramičnih cevi, da se premika ustrezno vzdrževati ustrezno silo med vzorcem in konico igle.
Mikroskopija na atomsko silo (AFM) združuje zgornje tri dele za predstavitev površinskih značilnosti vzorca: v sistemu AFM se uporablja majhna konzola za zaznavanje interakcije med konico igle in vzorcem. Ta sila bo povzročila nihanje konzole, nato pa se uporabi laser za obsevanje konca konzole. Ko se oblikuje nihanje, se položaj odbite svetlobe spremeni, kar povzroči zamik. V tem času bo laserski detektor zabeležil ta odmik in v tem trenutku posredoval povratni sistem s signalom za lažjo ustrezno prilagoditev sistema. Na koncu bodo površinske značilnosti vzorca predstavljene v obliki slike.
