Razširitev funkcije merjenja kapacitivnosti digitalnega multimetra
1. Spletno merjenje kapacitivnosti
Glede na lastnosti diferencialnih in integralnih vezij lahko meritev kapacitivnosti pretvorimo v meritev napetosti.
Osrednji del vezja, CX/V, uporablja preprosto aktivno RC inverzno diferencialno in integralno vezje. Wen oscilator generira signal AC s fiksno frekvenco Vr, ki vzbuja pretvorbeno vezje CX/V, da dobi AC napetost V0 (V1), sorazmerno s CX. Po filtriranju s pasovnim filtrom drugega reda za odstranitev nereda zunaj fiksne frekvence je nato izpostavljen AC/DC, da dobi enosmerno izhodno napetost V, sorazmerno s CX. Ko izmenični signal Vr vzbudi vezje CX/V, je izhodna napetost integratorja pretvornika
To pomeni, da je izmerjena kapacitivnost CX sorazmerna z izhodno napetostjo C{{0}}, s čimer se doseže pretvorba CX → V. Da bi osnovni nivo kondenzatorja ustrezal nivoju 2 V digitalnega multimetra, je frekvenca nihanja Venturijevega oscilatorja izbrana kot 400 Hz, vrednost efektivne napetosti je 1 V, R1 je vzet kot 20 k Ω, C1 pa kot 0,1 μF. R2 se spreminja od 200 Ω -2k Ω -20k Ω -200k Ω -2M Ω, kar ustreza obsegu merilne kapacitivnosti 20 μF{{ 16}} μ F-200nF-20nF-2nF.
2. Izmerite majhno kapacitivnost
Razpon za merjenje kapacitivnosti s tipičnim triinpolmestnim multimetrom je 2000pF~20 μF. Zdi se, da je nemočno meriti majhne kondenzatorje pod 1pF. V skladu s kapacitivno impedančno metodo in uporabo visokofrekvenčnih signalov je mogoče doseči meritev majhnih kondenzatorjev. Diagram merilnega vezja je prikazan na sliki 2. CX je izmerjena kapacitivnost, Rf pa povratna upornost na koncu reverzne faze. Ko je vhodna frekvenca sinusnega signala Vi f, sta impedanca, predstavljena na CX, in ojačanje operacijskega ojačevalnika: ko sta A in Rf konstantna, je frekvenca sinusnega signala f obratno sorazmerna z izmerjeno kapacitivnostjo CX. Za merjenje manjših kondenzatorjev se za merjenje uporabljajo visokofrekvenčni signali.
