Shematski diagram principa slikanja mikroskopa
Vem, da okular deluje kot povečevalno steklo, vendar je slika, ki jo ustvari povečevalno steklo, na isti strani kot predmet. Ko leča objektiva v mikroskopu poveča predmet, mora biti nastala slika v mikroskopski cevi. Če je princip okularja enak principu povečevalnega stekla, kakšna je njegova slika? Namesto povečave v nasprotni smeri od človeškega očesa (ista stran predmeta), kako veste, kako vidite dvakrat povečano sliko? Načelo slikanja mikroskopa je prikazano na sliki. Goriščna razdalja leče objektiva je kratka, goriščna razdalja okularja pa dolga. Predmet tvori obrnjeno realno sliko A skozi lečo objektiva. "B", slika se nahaja znotraj goriščne točke okularja (znotraj tulca leče), lahko jo obravnavamo tudi kot predmet okularja in po prehodu skozi okular postane pokončna navidezna slika; je še vedno enaka povečevalnemu steklu in slika predmeta je na isti strani).
Vem, da okular deluje kot povečevalno steklo, vendar je slika, ki jo ustvari povečevalno steklo, na isti strani kot predmet. Ko leča objektiva v mikroskopu poveča predmet, mora biti nastala slika v mikroskopski cevi. Če je princip okularja enak principu povečevalnega stekla, kakšna je njegova slika? Namesto povečave v nasprotni smeri od človeškega očesa (ista stran predmeta), kako veste, kako vidite dvakrat povečano sliko? Načelo slikanja mikroskopa je prikazano na sliki. Goriščna razdalja leče objektiva je kratka, goriščna razdalja okularja pa dolga. Predmet tvori obrnjeno realno sliko A skozi lečo objektiva. "B", slika se nahaja znotraj goriščne točke okularja (znotraj tulca leče), lahko jo obravnavamo tudi kot predmet okularja in po prehodu skozi okular postane pokončna navidezna slika; je še vedno enaka povečevalnemu steklu in slika predmeta je na isti strani).
Kako delujejo AFM
Osnovno načelo AFM je podobno načelu STM. Pri AFM se za skeniranje površine vzorca na rastrski način uporablja konica igle na elastični konzoli, ki je zelo občutljiva na šibke sile. Ko je razdalja med konico igle in površino vzorca zelo blizu, obstaja zelo šibka sila (10-12~10-6N) med atomi na konici konice igle in atomi na površino vzorca. V tem času bo mikrokonzola podvržena majhni elastični deformaciji. Sila F med konico in vzorcem ter deformacija konzole sledita Hookovemu zakonu: F=-k*x, kjer je k konstanta sile konzole. Torej, dokler se meri deformacija mikrokonzole, lahko dobimo silo med konico in vzorcem. Sila in razdalja med konico igle in vzorcem sta močno odvisni, zato se povratna zanka uporablja za ohranjanje konstante sile med konico igle in vzorcem med postopkom skeniranja, kar pomeni, da se ohrani deformacija konzole. konstantna, konica igle pa bo sledila vzorcu. Vzponi in padci površine se premikajo navzgor in navzdol, pot gibanja konice igle navzgor in navzdol pa je mogoče zabeležiti, da se pridobijo informacije o topografiji površine vzorca. Ta način dela se imenuje "način konstantne sile" in je najpogosteje uporabljena metoda skeniranja.
Slike AFM je mogoče pridobiti tudi z uporabo "načina konstantne višine", to je med skeniranjem X, Y, brez uporabe povratne zanke, pri čemer je razdalja med konico igle in vzorcem konstantna, z merjenjem smeri Z mikrokantileverja. količina deformacije slike. Ta metoda ne uporablja povratne zanke in lahko sprejme večjo hitrost skeniranja. Običajno se uporablja bolj pri opazovanju atomov in molekul, vendar ni primeren za vzorce z relativno velikimi površinskimi fluktuacijami.
