Uporaba infrardečih mikroskopov v mikro napravah v elektronski industriji
Z razvojem nanotehnologije se njen-pristop miniaturizacije od zgoraj navzdol vedno bolj uporablja na področju polprevodniške tehnologije. Včasih smo tehnologijo IC imenovali "mikroelektronika", ker je velikost tranzistorjev v območju mikrometrov (10-6 metrov). Toda polprevodniška tehnologija se razvija zelo hitro, vsaki dve leti napreduje za eno generacijo, velikost pa se bo skrčila na polovico prvotne velikosti, kar je znameniti Moorov zakon. Pred približno 15 leti so polprevodniki začeli vstopati v submikronsko dobo, ki je manjša od mikrometrov, čemur je sledila globlja podmikronska doba, veliko manjša od mikrometrov. Do leta 2001 se je velikost tranzistorjev celo zmanjšala na manj kot 0,1 mikrometra, kar je manj kot 100 nanometrov. Zato bo v dobi nanoelektronike večina prihodnjih IC izdelanih z uporabo nanotehnologije.
Tehnične zahteve:
Trenutno je glavna oblika okvare elektronskih naprav toplotna okvara. Po statističnih podatkih 55 % okvar elektronskih naprav povzroči temperatura, ki presega določeno vrednost, stopnja okvar elektronskih naprav pa eksponentno narašča z naraščajočo temperaturo. Na splošno je zanesljivost delovanja elektronskih komponent zelo občutljiva na temperaturo, s 5-odstotnim zmanjšanjem zanesljivosti za vsako 1 stopinjo povišanja temperature naprave med 70 in 80 stopinjami Celzija. Zato je potrebno hitro in zanesljivo zaznavanje temperature naprave. Zaradi čedalje manjše velikosti polprevodniških naprav so bile postavljene višje zahteve glede temperaturne ločljivosti in prostorske ločljivosti detekcijske opreme.
