Kaj veste o slabi pokritosti mikroskopa?
Optični sistem mikroskopa vključuje tudi pokrovno stekelce. Zaradi nestandardne debeline pokrovnega stekla se spremeni optična pot svetlobe po vstopu v zrak iz pokrovnega stekla, kar povzroči fazno razliko, kar je slaba pokritost. Ustvarjanje slabe pokritosti vpliva na kakovost zvoka mikroskopa.
V skladu z mednarodnimi predpisi je standardna debelina pokrovnega stekla {{0}}.17 mm, dovoljeno območje pa 0.16-0.18 mm. Razlika v tem območju debeline je bila izračunana pri izdelavi leče objektiva. Oznaka 0,17 na ohišju leče objektiva označuje debelino pokrovnega stekla, ki ga zahteva leča objektiva.
