Razlika med mikroskopom na atomsko silo ter optičnim mikroskopom in elektronskim mikroskopom
Glavna razlika med AFM in konkurenčnimi tehnologijami, kot sta optična in elektronska mikroskopija, je v tem, da AFM ne uporablja leč ali svetlobnih žarkov. Tako ni omejen s prostorsko ločljivostjo zaradi difrakcije in aberacij ter ne zahteva priprave prostora za usmerjanje žarka (z ustvarjanjem vakuuma) in barvanje vzorca.
Obstaja več vrst vrstičnih mikroskopov, vključno z vrstično sondno mikroskopijo (vključno z AFM, vrstično tunelsko mikroskopijo (STM) in vrstično optično mikroskopijo bližnjega polja (SNOM/NSOM), mikroskopijo STED (STED), kot tudi vrstično elektronsko mikroskopijo in elektrokemijsko atomsko mikroskopija na silo EC -AFM). Čeprav SNOM in STED osvetljujeta vzorce z vidno, infrardečo in celo teraherčno svetlobo, njuna ločljivost ni omejena z mejo uklona.
