Razpoložljivi obsegi osvetlitve mikroskopa
Poleg ročnih modelov je mikroskop na voljo tudi z novo serijo motoriziranih univerzalnih osvetljevalcev. Bela LED osvetljevalka je primerna za opazovanje v svetlem polju. Uporabniki lahko izberejo halogensko žarnico 12 V 50 W ali vir bele LED svetlobe glede na namen opazovanja in delo.
Univerzalni epiosvetljevalec mikroskopa LV-UEP1, ta univerzalni epiosvetljevalec lahko izvaja tudi opazovanje svetlega polja, temnega polja, preprosto polarizirano svetlobo in DIC opazovanje. Osvetljevalec samodejno odpre diafragme polja in zaslonke, ko preklopi iz opazovanja v svetlem polju v opazovanje v temnem polju. Ko se vrne v svetlo polje, osvetljevalec samodejno obnovi prejšnje pogoje polja in zaslonke.
Mikroskop LV-UEP2 epi-osvetljevalec za splošno uporabo, poleg svetlega polja, temnega polja, preproste polarizirane svetlobe in DIC, lahko ta osvetljevalec izvaja tudi epi-fluorescenčno opazovanje. Povezana struktura osvetljevalnika z zaslonko, vidnim poljem in zaslonko samodejno nastavi optimalne svetlobne pogoje. Ta funkcija minimizira zapletenost upravljanja merilnega mikroskopa in uporabniku omogoča, da se osredotoči na opazovanje.
Mikroskop LV-UEP1 FA Universal Epi-Illuminator Focus Assist, ta univerzalni epi-Illuminator je opremljen z izbirnim mehanizmom FA za ostrenje s pomočjo dihroične prizme, ki zagotavlja večjo jasnost pri merjenju na osi Z.
Analiza programske opreme za merjenje mikroskopa, metalografskega mikroskopa
1) Programska oprema ponuja vodoravne črte, navpične črte, diagonalne črte, kroge in druge metode merjenja vozlišč za merjenje velikosti zrn. Samodejno lahko določi hitro merjenje in izračun meja zrn ter lahko izbere ročne ali samodejne metode merjenja. Podatke meritev je mogoče statistično analizirati, nato pa izhod izvoziti v Excelovo poročilo.
2) Pomagajte uporabnikom pri analizi in merjenju stopnje metalografske sferoidizacije z uporabo parametrov, kot so okroglost, površina in oblika
3) Površino in odstotek površine je mogoče izračunati glede na kategorijo izbranega metalografskega materiala
4) Uporablja se lahko tudi za analizo površinske poroznosti poroznih materialov ali določanje velikosti in površine por
5) Da bi premagali omejitev objektiva z visoko povečavo in numerično odprtino, majhna navpična globinska ostrina in navpična višinska razlika naredijo metalografsko površino
zamegljen problem
