+86-18822802390

Slikovne metode za svetla in temna polja fluorescenčne mikroskopije

Jun 13, 2024

Slikovne metode za svetla in temna polja fluorescenčne mikroskopije

 

(1) Slikanje v svetlem polju (Bright field imaging – BFI), ki dovoljuje samo oddanim elektronom v paraksialnem območju, da preidejo skozi odprtino objektiva in tvorijo temno sliko na svetlem ozadju. Manjša ko je zaslonka leče objektiva, večji je kontrast slike svetlega polja; (2) Temnopoljsko slikanje (DFI), ki dovoljuje, da le del žarka, razpršenega pod velikim kotom, ali uklonskega žarka kristala preide skozi odprtino leče objektiva, medtem ko blokira oddani žarek. To ustvari svetlo grafično sliko na temnem ozadju. Ta metoda slikanja temnega polja lahko izboljša kontrast slik in je pomembna metoda slikanja.


Obstajajo približno štiri metode za fluorescenčno mikroskopijo za slikanje temnega polja: (1) ohranjanje navpične osvetlitve vzdolž optične osi med premikanjem zaslonke objektiva; (2) Uporaba poševne osvetlitve za pridobitev razpršenih žarkov v smeri optične osi se imenuje slikanje sredinskega temnega polja (CDFI); (3) odprtina leče objektiva z osrednjim blokiranjem žarka in okroglim prozornim območjem; (4) Uporabite okrogel prozoren reflektor za zaznavanje svetlobe in odprtino objektiva s sredinsko okroglo luknjo. Metode * tukaj so preproste in priročne, vendar uporabljajo elektronsko slikanje v daljnem območju rokava, kar povzroča velike aberacije in slabo kakovost slike. Z drugo metodo se je mogoče izogniti zgornjim pomanjkljivostim, vendar zaslonka objektiva fluorescenčnega mikroskopa Leica sprejme le majhen del razpršenih uklonenih elektronov, kar povzroči nižjo učinkovitost. Stran zaslonke je pogosto bombardirana z velikim številom elektronov, kar lahko zlahka povzroči asimetrično onesnaženje in vpliva na kakovost slike. Krožni objektiv je bil v tem pogledu izboljšan, vendar je slabost, da ga je težko izdelati in težko doseči popolno osno simetrijo. Glede na razmeroma sproščene zahteve za sistem razsvetljave je mogoče sprejeti slednjo rešitev, ki vključuje dodajanje krožne odprtine na kondenzorju, da se zagotovi votla osvetlitev vzorca. Učinek te naprave. Njegova ločljivost slike je lahko blizu slike svetlega polja, medtem ko je kontrast močno izboljšan.

 

4 Microscope

Pošlji povpraševanje