Koliko veste o mikroskopiji z atomsko silo?
Osnovno načelo mikroskopije na atomsko silo (AFM) je, da atomska razporeditev površine vzorca ustvarja "konkavno in konkavno". Ko sonda skenira v vodoravni smeri, se bo razdalja med konico igle in površino vzorca spremenila v navpični smeri. Iz teorije fizike trdne snovi je znano, da ko je konica sonde zelo blizu površine vzorca, se med njima ustvari medatomska sila. Sprememba navpične razdalje med konico igle in površino vzorca povzroči spremembo medatomske sile med konico igle in površino vzorca. Spreminjajoča se medatomska sila povzroči nihanje konzole v navpični smeri. Zato lahko spreminjajočo se medatomsko silo med konico igle in površino vzorca zaznamo z uporabo odklona laserskega žarka. Signal odklona laserskega žarka se vnese v računalnik za obdelavo in pridobi podatke o površini vzorca. Pod površino vzorca je nameščen piezoelektrični material, ki sprejema povratni signal iz računalnika in prilagaja višino površine vzorca, da se doseže namen zaščite konice sonde.
Ker mikroskop na atomsko silo temelji na teoriji medatomskih sil, se površina testiranega vzorca razteza od prevodnikov in polprevodnikov do polja izolatorjev, njegova stranska ločljivost pa lahko doseže 0,101 nm. Trenutno so glede na stik med konico sonde in površino vzorca kontaktne oblike mikroskopa na atomsko silo razdeljene na kontaktni tip (tip C), brezkontaktni tip (tip NC) in tip s prekinitvami (tip IC). ).
