Razširitev funkcije merjenja digitalne multimetrske kapacitivnosti
1. spletno merjenje kapacitivnosti
Glede na lastnosti diferencialnih integralnih vezij se lahko merjenje kapacitivnosti pretvori v merjenje napetosti.
Osrednji del vezja CX/V sprejme preprosto aktivno RC inverzno diferenciacijo in integracijsko vezje. Oscilator WEN ustvari fiksni frekvenčni izmenični signal VR, ki vzbudi pretvorbo CX/V, da dobi izmenično napetost v 0 (v1), sorazmerno s CX. Potem ko ga filtrirajo s pasovnim filtrom drugega reda, da odstranite nered zunaj fiksne frekvence, je nadalje podvrženo AC/DC, da dobimo DC izhodno napetost V, sorazmerno s CX. Ko AC signal VR vzbudi vezje CX/V, izhodna napetost pretvornega integratorja
To pomeni, da je izmerjena kapacitivnost CX sorazmerna z izhodno napetostjo C {0}}, s čimer dosežete pretvorbo CX → V. In order to match the capacitance basic level with the 2V level of the digital multimeter, the oscillation frequency of the Wen oscillator is selected as 400Hz, the effective voltage value is 1V, R1 is set to 20k Ω, and C1 is set to 0.1 μ F. R2 varies from 200 Ω -2k Ω -20k Ω -200 k ω -2 m Ω, ki ustreza izmerjenemu območju kapacitivnosti 20 μ f -2} μ f -200 nf -20 nf -2 nf.
2. Izmerite majhne kondenzatorje
Obseg tipičnega trimejnega multimetra za merjenje kapacitivnosti je 2000pf do 20 μ F in je nemočen za merjenje majhnih kondenzatorjev pod 1pf. Glede na metodo impedance kapacitivnosti in z uporabo visokofrekvenčnih signalov je mogoče meriti majhne kondenzatorje. Diagram merilnega vezja je prikazan na sliki 2. CX je izmerjena kapacitivnost, RF pa povratni upor na koncu pretvorbe. Ko je vhodna frekvenca sinusnega signala VI F, sta impedanca, predstavljena na CX, in dobiček operativnega ojačevalnika: Kadar sta A in RF konstantna, je frekvenca sinusnega signala F obratno sorazmerna z izmerjeno kapacitivnostjo CX. Za merjenje manjših kondenzatorjev za merjenje uporabite visokofrekvenčne signale.
