Razširitev funkcije merjenja kapacitivnosti digitalnega multimetra
Previdnostni ukrepi
1) Pred uporabo preberite priročnik z navodili, da boste razumeli način uporabe in previdnostne ukrepe instrumenta.
2) Instrumenta ne smete postaviti na mesta z visoko temperaturo, vlago, kanalizacijo, prahom, zrakom ali kemičnim plinom z visoko vsebnostjo klorovodikove kisline in alkalijskih komponent.
3) Pri nameščanju baterije ali zunanjega napajanja bodite pozorni na polariteto in ne zamenjajte povezave. Baterijo je treba odstraniti, če je dalj časa ne uporabljate, da ne poškodujete instrumenta zaradi puščanja.
4) Ne razstavljajte mikrofona, da preprečite metanje, in ga pravilno postavite, ko ni v uporabi.
5) Ne razstavljajte instrumenta brez dovoljenja. Če instrument ni normalen, ga lahko pošljete v popravilo ali v tovarno na popravilo.
1. Spletno merjenje kapacitivnosti
Glede na lastnosti diferencialnih in integralnih vezij lahko meritev kapacitivnosti pretvorimo v meritev napetosti.
Osrednji del vezja CX/V sprejme preprosto aktivno RC inverzno diferencialno in integralno vezje. Wen oscilator generira signal AC s fiksno frekvenco Vr, ki vzbuja vezje za pretvorbo CX/V, da dobi AC napetost V0 (V1) sorazmerno s CX. Potem ko je filtriran s pasovnim filtrom drugega reda, da odstrani nered zunaj fiksne frekvence, je nato izpostavljen AC/DC, da dobi enosmerno izhodno napetost V, sorazmerno s CX. Ko izmenični signal Vr vzbudi vezje CX/V, je izhodna napetost integratorja pretvornika
To pomeni, da je izmerjena kapacitivnost CX neposredno sorazmerna z izhodno napetostjo C{{0}}, s čimer se doseže pretvorba CX → V. Za ujemanje osnovnega kapacitivnega nivoja z 2V nivojem digitalnega multimetra je frekvenca nihanja Wentzovega oscilatorja izbrana kot 400Hz, efektivna vrednost napetosti je 1V, R1 je vzet kot 20k Ω, C1 pa je vzet kot 0,1 μ F. R2 se spreminja od 200 Ω -2k Ω -20k Ω -200k Ω -200k Ω -2M Ω, kar ustreza obsegu merilne kapacitivnosti 20 μ F-2 μ F-200nF-20nF-2nF.
2. Izmerite majhno kapacitivnost
Običajno območje triinpolmestnega multimetra za merjenje kapacitivnosti je od 2000 pF do 20 μF in ni moč meriti majhnih kondenzatorjev pod 1 pF. V skladu s kapacitivno impedančno metodo in z uporabo visokofrekvenčnih signalov je mogoče doseči meritev majhnih kondenzatorjev. Shema merilnega vezja je prikazana na sliki 2. CX je izmerjena kapacitivnost, Rf pa povratna upornost reverzne fazne sponke. Ko je vhodna frekvenca sinusnega signala Vi f, sta impedanca, predstavljena na CX, in ojačanje operacijskega ojačevalnika: ko sta A in Rf konstantna, je frekvenca sinusnega signala f obratno sorazmerna z izmerjeno kapacitivnostjo CX. Za merjenje manjše kapacitivnosti uporabite za merjenje visokofrekvenčne signale.
