Kratka uvedba funkcij mikroskopa skeniranja
Mikroskop za skeniranje sonde (SPM) je splošen izraz za skeniranje tunelirajočega mikroskopa in različne nove mikroskope sonde, razvite na podlagi skenirajočega tunelirajočega mikroskopa (kot so mikroskopija atomske sile (AFM), mikroskopija laserske sile (LFM), mikroskopija magnetne sile (MFM) itd.). Gre za površinsko analizo instrumenta, ki se je v zadnjih letih razvil na mednarodni ravni. To je visokotehnološki izdelek, ki združuje svetlobo, strojno in električno energijo z celovito uporabo sodobnih znanstvenih in tehnoloških dosežkov, kot so optoelektronska tehnologija, laserska tehnologija, šibka tehnologija za odkrivanje signalov, natančna mehanska zasnova in obdelava, tehnologija samodejnega krmiljenja, tehnologija digitalne obdelave signalov, uporabljena optična tehnologija in visokozmogljivo tehnologijo in nadzor nadgradnje. Ta nova vrsta mikroskopskega orodja ima pomembne prednosti v primerjavi s prejšnjimi mikroskopi in analitičnimi instrumenti:
1. SPM ima izjemno visoko ločljivost. Zlahka 'vidi' atome, kar je težko za doseganje navadnih mikroskopov ali celo elektronskih mikroskopov.
2. SPM pridobi slike v realnem času z visoko ločljivostjo vzorčne površine, ki resnično prikazujejo atome. Za razliko od nekaterih analitičnih instrumentov, ki izračunajo površinsko strukturo vzorca z posrednimi ali računskimi metodami.
3. Okolje uporabe SPM je sproščeno. Elektronski mikroskopi in drugi instrumenti imajo stroge zahteve za delovno okolje, vzorce pa je treba postaviti pod visoke vakuumske pogoje za testiranje. SPM lahko deluje v vakuumu, pa tudi v atmosferi, nizki temperaturi, sobni temperaturi, visoki temperaturi in celo v raztopinah. Zato je SPM primeren za znanstvene poskuse v različnih delovnih okoljih.
