Uporaba metalografskih mikroskopov v različnih industrijskih sektorjih
Metalografski mikroskopi so najprej izhajali iz metalografije. Njihov glavni namen je opazovanje metalografskih struktur, zaradi česar so specializirani instrumenti, zasnovani izključno za pregledovanje metalografskih struktur neprozornih predmetov, kot so kovine in minerali. Teh neprozornih predmetov ni mogoče opazovati pod običajnimi mikroskopi s prepustno svetlobo; zato je ključna razlika med metalografskimi mikroskopi in navadnimi mikroskopi v tem, da prvi za osvetlitev uporablja odbito svetlobo, drugi pa prepustno svetlobo.
Za metalografske mikroskope je značilna odlična stabilnost, jasna slika, visoka ločljivost in veliko ravno vidno polje. Poleg mikroskopskega opazovanja skozi okular lahko v realnem{1}}času prikažejo tudi dinamične slike na zaslonih računalnika (ali digitalnega fotoaparata). Zahtevane slike je mogoče urejati, shraniti in natisniti s primarnimi aplikacijami na področjih, kot so strojna oprema, metalografski odseki, komponente IC in proizvodnja LCD/LED.
Metalografski mikroskopi so opremljeni s petimi vrstami objektivov: EPI Brightfield Fluorescence, BD Brightfield/Darkfield, SLWD (Super Long Working Distance), ELWD (Enhanced Long Working Distance) in leče s korekcijskim ovratnikom. V industriji strojne opreme je za dele strojne opreme z močnim odbojem mogoče izbrati leče objektiva BD Brightfield/Darkfield za opazovanje. Na primer, v industriji LCD, pri opazovanju in merjenju prevodnih delcev, so metalografski mikroskopi lahko opremljeni z DIC (Differential Interference Contrast) za doseganje več-tridimenzionalnih slik. DIC uporablja polarizacijsko tehnologijo-parni polarizacijski filtri tvorijo polariziran mikroskopski opazovalni sistem. Na podlagi dvolomnih lastnosti predmetov smerno spreminja optično pot. Vendar pa je polarizacija pomembna le, če se uporablja v povezavi z DIC; ne služi samo praktičnemu namenu. Kadar se metalografski mikroskopi uporabljajo za merjenje in analiziranje predmetov mikro-velikosti, kot so komponente IC in metalografski odseki, je mogoče uporabiti inteligentno programsko opremo Iview-DIMS.
Ta programska oprema nudi visoko natančnost in učinkovito zmanjšuje napake pri meritvah. Je enostaven za učenje in uporabo ter omogoča natančno merjenje in analizo ustreznih dimenzij, kot so točke, črte, loki, polmeri, premeri in koti. Podpira tudi enostavno zajemanje merilnih slik in prilagajanje različnih poročil o preskusih.
